愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試打造互聯(lián)世界測(cè)量解決方案

在SEMICON China上，領(lǐng)先的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試圍繞“測(cè)量互聯(lián)的世界”的主題，全方位展示了較先進(jìn)的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試技術(shù)。期間，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試（中國(guó)）管理有限公司應(yīng)用技術(shù)支持部經(jīng)理胡佳明接受了記者采訪，他表示，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試一直關(guān)注行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)和熱點(diǎn)，為客戶提供較先進(jìn)的測(cè)量解決方案，幫助他們應(yīng)對(duì)互聯(lián)世界的諸多挑戰(zhàn)。

當(dāng)前及下一代RF半導(dǎo)體更經(jīng)濟(jì)高效測(cè)試方案

胡佳明介紹說(shuō)，較近，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試推出了基于V93000平臺(tái)的Wave Scale測(cè)試板卡，其創(chuàng)新的架構(gòu)能夠?yàn)闊o(wú)線通訊器件測(cè)試帶來(lái)高并行性及大同測(cè)數(shù)，是面向5G的下一代ATE RF解決方案。

他認(rèn)為，物聯(lián)網(wǎng)中射頻芯片的發(fā)展趨勢(shì)有兩個(gè)方向，一是低成本的物聯(lián)網(wǎng)芯片，采用不同的協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)，如LTE-M、BT、WLAN，通常高產(chǎn)量，低價(jià)格；二是高性能移動(dòng)芯片，采用4G和未來(lái)的手機(jī)協(xié)議，如LTE/LTE-A，具有多近多出和載波聚合功能，符合CAT10協(xié)議和以后的各種協(xié)議。更加經(jīng)濟(jì)高效地滿足當(dāng)前及下一代RF半導(dǎo)體產(chǎn)品的測(cè)試需求是當(dāng)務(wù)之急。

作為全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試在V93000平臺(tái)上推出了Wave Scale™ 系列測(cè)試板卡，對(duì)于無(wú)線通訊而言，可以前所未有地提高RF及混合信號(hào)集成電路測(cè)試時(shí)的并行性及產(chǎn)能。新款V93000 Wave Scale RF及V93000 Wave Scale MX測(cè)試板卡設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)高并行，多芯片同測(cè)及芯片內(nèi)并行測(cè)試，對(duì)于如今的RF半導(dǎo)體器件而言，將從根本上降低測(cè)試成本，并縮短產(chǎn)品進(jìn)入市場(chǎng)的時(shí)間，同時(shí)為未來(lái)5G芯片的測(cè)試開(kāi)辟出一條新的路徑。

胡佳明稱，新款測(cè)試板卡目標(biāo)瞄準(zhǔn)RF及無(wú)線通訊市場(chǎng)領(lǐng)域，能夠?yàn)?/span>LTE、LTE-Advanced和LTE-A Pro智能手機(jī)及LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee、藍(lán)牙及物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用等半導(dǎo)體芯片提供高效的測(cè)試解決方案。新的測(cè)試板卡在滿足當(dāng)前市場(chǎng)需求的同時(shí)，還突出了一些5G網(wǎng)絡(luò)上可能會(huì)出現(xiàn)的技術(shù)變化。

相比于目前市場(chǎng)上其他產(chǎn)品，基于V93000平臺(tái)的Wave Scale測(cè)試板卡在架構(gòu)上更為先進(jìn)。傳統(tǒng)的RF測(cè)試解決方案一直沿用多芯片同測(cè)的方式，比如四或八芯片同測(cè)，但是一次僅在芯片內(nèi)對(duì)一種RF標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。Wave Scale RF及相應(yīng)的Wave Scale MX測(cè)試板卡能在一個(gè)RF芯片內(nèi)同時(shí)對(duì)多種標(biāo)準(zhǔn)或者多個(gè)路徑進(jìn)行測(cè)試，通過(guò)高效的芯片內(nèi)并行及高同測(cè)效率的多芯片并行，能顯著地降低這些復(fù)雜RF器件的測(cè)試成本。

據(jù)介紹，Wave Scale RF板卡在每塊板上擁有四個(gè)獨(dú)立的RF子系統(tǒng)并帶有獨(dú)立的信號(hào)激勵(lì)及測(cè)量能力，能夠在同一時(shí)間對(duì)LTE、GPS、藍(lán)WLAN器件進(jìn)行測(cè)試 。每個(gè)子系統(tǒng)帶有八個(gè)單獨(dú)的端口，能夠同時(shí)將RF信號(hào)扇出到較多四個(gè)獨(dú)立的測(cè)量?jī)x器。這能使每個(gè)RF子系統(tǒng)能夠支持多達(dá)八個(gè)芯片運(yùn)行RX（接收器）和TX（發(fā)射器）的測(cè)試 ，每塊板卡支持多達(dá)32個(gè)芯片同時(shí)測(cè)試。Wave Scale RF板卡的32個(gè)RF端口都能支持較高至6GHz的頻率。憑借200MHz帶寬及包括提供內(nèi)部回路，嵌入式校準(zhǔn)等在內(nèi)的其他各種特征，其能很好地支持包括未來(lái)5G半導(dǎo)體器件在內(nèi)的一系列廣泛的應(yīng)用。

胡佳明強(qiáng)調(diào)，新一代Wave Scale RF及Wave Scale MX板卡的共同特征是帶有獨(dú)立硬件序列發(fā)生器，用于控制所有儀器的并行獨(dú)立運(yùn)行。Wave Scale能夠使客戶跟上未來(lái)半導(dǎo)體芯片上發(fā)生的快速技術(shù)變革的腳步。采用Wave Scale可使當(dāng)前和下一代芯片的測(cè)試變得更加高效，具有更好的成本優(yōu)勢(shì)，并能縮短產(chǎn)品進(jìn)入市場(chǎng)的時(shí)間。

擴(kuò)充智能器件測(cè)試能力

愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試還展示了專為V93000單一可擴(kuò)充平臺(tái)設(shè)計(jì)的DC Scale AVI64模塊，預(yù)計(jì)它將可讓V93000成為市場(chǎng)上應(yīng)用較廣泛的平臺(tái)。AVI64提供了64個(gè)通用的模擬測(cè)試通道，將可擴(kuò)充V93000平臺(tái)的測(cè)試范圍延伸至智能互聯(lián)器件及其電源模擬組件，以應(yīng)對(duì)目前高速成長(zhǎng)的移動(dòng)、汽車(chē)與物聯(lián)網(wǎng)的市場(chǎng)需求。

胡佳明表示，在物聯(lián)網(wǎng)市場(chǎng)的推動(dòng)下，新一代SoC的設(shè)計(jì)整合了模擬傳感器、移動(dòng)運(yùn)算、無(wú)線通信與高效電源管理等功能。此類智能器件在單一IC上整合了數(shù)量超越以往的模擬與功率功能，促成了智能裝置的進(jìn)一步發(fā)展，比如延長(zhǎng)手持電子設(shè)備電池壽命，以及智能車(chē)聯(lián)網(wǎng)等應(yīng)用的興起。

在進(jìn)一步提升模擬及電源裝置的進(jìn)階測(cè)試功能后，V93000單一可擴(kuò)充平臺(tái)的測(cè)試范圍將可囊括從低管腳數(shù)IC到復(fù)雜且高度整合的SoC（系統(tǒng)芯片）。由整合電源／模擬測(cè)試功能至完整SoC的測(cè)試，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試達(dá)成了領(lǐng)先業(yè)界的強(qiáng)大功能，并更有能力應(yīng)對(duì)從智慧家庭到智能城市，等諸多物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的全面崛起。

透過(guò)較新的AVI64通用模擬測(cè)試通道，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試V93000測(cè)試平臺(tái)具備了測(cè)試高階SoC裝置需要的所有功能。高度整合的設(shè)計(jì)，讓機(jī)臺(tái)可使用較少的板卡，執(zhí)行更多測(cè)試作業(yè)。如此不僅可縮減系統(tǒng)空間，還能同時(shí)提升系統(tǒng)的可擴(kuò)展性及靈活性、并可簡(jiǎn)化測(cè)試公板的復(fù)雜度，以及提高并行同測(cè)的執(zhí)行效率，借此以達(dá)到業(yè)界所需的較低測(cè)試成本，相較于同行業(yè)競(jìng)爭(zhēng)者系統(tǒng)需依賴大量的信道卡才能達(dá)到同樣的測(cè)試能力，V93000所能節(jié)省的測(cè)試成本是絕對(duì)毋庸置疑的。

AVI64的每一個(gè)通用模擬通道都裝備了測(cè)試所必需的功能，如任意波形產(chǎn)生器（AWG）、數(shù)字波形采集器、時(shí)間量測(cè)單元（TMU）與高電壓數(shù)字I/O等。此外，AVI64還提供了浮動(dòng)高大電流單元、差分電壓計(jì)以及集成模擬切換矩陣，能同時(shí)對(duì)每個(gè)通道上的電壓和電流進(jìn)行精確的量測(cè)。透過(guò)單一模塊上64通道的密集配置，AVI64廣泛的工作能力，可被應(yīng)用在精密模擬、高壓數(shù)字、混合訊號(hào)、智能感測(cè)與高電流半導(dǎo)體等各式IC的測(cè)試。AVI64通用模擬腳位單元將可利用以上能力，提供同級(jí)產(chǎn)品中較佳的單通道測(cè)試準(zhǔn)確度，同時(shí)使測(cè)試資源的利用率以及測(cè)試效益雙雙達(dá)到較大化。

在這些針對(duì)智能器件測(cè)試所需的主要功能之中，AVI64還有一項(xiàng)稱為Domain Sync的關(guān)鍵能力，能夠使待測(cè)芯片（DUT）的模擬及數(shù)字訊號(hào)時(shí)序同步。此外，系統(tǒng)高效率高并行度測(cè)試，以及無(wú)毛刺等特點(diǎn)，皆能夠加快產(chǎn)品上市與質(zhì)量提升的時(shí)程，推動(dòng)新IC設(shè)計(jì)的發(fā)展。

AVI64通用模擬測(cè)試模塊已被多家客戶廠商采用，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試也接到了來(lái)自中國(guó)頂尖IC設(shè)計(jì)公司的訂單。

SSD測(cè)試能力再獲提升

胡佳明還介紹了剛剛推出的可測(cè)試SATA、SAS和PCIe等不同協(xié)議的固態(tài)硬盤(pán)（SSD）的MPT3000HVM系統(tǒng)，只要通過(guò)此單一平臺(tái)即可完成測(cè)試，無(wú)論是講求高效能的企業(yè)級(jí)SSD還是較具成本效益的客戶型SSD，都涵蓋在適用范圍內(nèi)。

他指出，不斷成長(zhǎng)和進(jìn)化中的固態(tài)硬盤(pán)市場(chǎng)出現(xiàn)了協(xié)議的轉(zhuǎn)換，從SATA和SAS 12G以及PCIe，需要支持多樣化的物理尺寸來(lái)迎合新的市場(chǎng)應(yīng)用需求。因此，需要滿足快速增長(zhǎng)的固態(tài)硬盤(pán)市場(chǎng)及低成本化要求。而根據(jù)市場(chǎng)研究與咨詢機(jī)構(gòu)Gartner的預(yù)估，SSD市場(chǎng)規(guī)模將在2019年成長(zhǎng)至超過(guò)3億個(gè)，所以客戶在市場(chǎng)需求持續(xù)擴(kuò)張的情況下，急需具彈性、可擴(kuò)充、成本低的測(cè)試解決方案。

MPT3000HVM之所以能成就如此優(yōu)異的生產(chǎn)測(cè)試解決方案，歸功于該系統(tǒng)在較新高密度配置中，運(yùn)用了備受業(yè)界肯定的MPT3000 Tester-per-DUT（被測(cè)裝置）架構(gòu)及獨(dú)特的硬件加速技術(shù)。

據(jù)介紹，MPT3000HVM為SSD制造商提供了適用于各種SSD協(xié)議與規(guī)格的單一平臺(tái)，此系統(tǒng)與MPT3000系列的其他產(chǎn)品一樣，測(cè)試范圍涵蓋采用各大主要協(xié)議的SSD，包括SAS 12G、SATA 6G與PCIe（采用NVMe或AHCI架構(gòu)），只要下載相應(yīng)的現(xiàn)場(chǎng)可程序化門(mén)陣列（FPGA）軟件即可，此外MPT3000HVM采用可更換的測(cè)試接口板，可測(cè)試各式規(guī)格，包括U.2、M.2與AIC卡，有鑒于此，不同SSD產(chǎn)品的生產(chǎn)線整備與轉(zhuǎn)換時(shí)間（change-over time）只需幾分鐘。

MPT3000HVM支持高效能、高功率范圍的SSD測(cè)試，具備較新閉鎖式回路熱控制技術(shù)，可測(cè)試較高達(dá)25W的SSD，除此該系統(tǒng)采用小型化、模塊化、可擴(kuò)充、高密度的特點(diǎn)，能大幅提高制造商的場(chǎng)地利用率。

胡佳明補(bǔ)充道，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試MPT3000HVM系統(tǒng)的推出，為SSD大量測(cè)試帶來(lái)更高等級(jí)的創(chuàng)新方案，此單一系統(tǒng)解決方案的設(shè)計(jì)初衷，是為了協(xié)助SSD制造商提高生產(chǎn)力與盈利能力。

MPT3000平臺(tái)內(nèi)建Stylus™軟件用戶接口，操作容易，無(wú)論是產(chǎn)品還是工程環(huán)境皆適用，而新推出的MPT3000HVM系統(tǒng)在Stylus上還加上較新SLATE™接口，專為量產(chǎn)環(huán)境中的異步單一SSD測(cè)試而量身設(shè)計(jì)。Stylus具備完整的測(cè)試方法數(shù)據(jù)庫(kù)與除錯(cuò)功能，接觸此系統(tǒng)的新老用戶，都能利用該測(cè)試方法數(shù)據(jù)庫(kù)輕松編寫(xiě)測(cè)試流程；若是專家級(jí)用戶，也可透過(guò)C/C+程序語(yǔ)言和延伸的應(yīng)用程序編程接口（API），按個(gè)別需求進(jìn)一步發(fā)展或修改測(cè)試方法。

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