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愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試解讀中國(guó)市場(chǎng)需求,力推三款新品

2014年08月20日17:07:51 本網(wǎng)站 我要評(píng)論(2)字號(hào):T | T | T

 

在日前舉行的愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試北京發(fā)布會(huì)上,愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(中國(guó))管理有限公司業(yè)務(wù)戰(zhàn)略發(fā)展部高級(jí)總監(jiān)陸亞奇介紹了中國(guó)半導(dǎo)體測(cè)試市場(chǎng)的發(fā)展趨勢(shì),應(yīng)用技術(shù)支持部高級(jí)經(jīng)理劉旸介紹了新推出的三款新產(chǎn)品。

 

中國(guó)半導(dǎo)體測(cè)試市場(chǎng)今非昔比

陸亞奇表示,中國(guó)半導(dǎo)體測(cè)試市場(chǎng)已從2003年占全球份額的10%多一點(diǎn)發(fā)展到今天的50%以上,中國(guó)不僅僅是一個(gè)制造基地,其核心價(jià)值在慢慢提升。中國(guó)的IC供應(yīng)已不能滿足迅速增長(zhǎng)的需求,已成為超過(guò)石油的第一位進(jìn)口產(chǎn)品。這源于本地設(shè)計(jì)公司的不斷發(fā)展,2013年,排名前5的設(shè)計(jì)公司已占到IC設(shè)計(jì)銷售額的32%,有兩家中國(guó)設(shè)計(jì)公司進(jìn)入了全球排行前25名。在政府的積極推動(dòng)下,電子信息產(chǎn)業(yè)的發(fā)展將推進(jìn)IC需求不斷增長(zhǎng)。

陸亞奇介紹說(shuō),愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試一直在支持中國(guó)的半導(dǎo)體測(cè)試、儀器儀表測(cè)試的發(fā)展,除了傳統(tǒng)的半導(dǎo)體測(cè)試、機(jī)電一體化之外,還涉足電子測(cè)量、納米技術(shù),以及太赫茲波測(cè)量和MEMS技術(shù)等新的業(yè)務(wù),以滿足中國(guó)半導(dǎo)體測(cè)試市場(chǎng)新的需求。

其中CTS云測(cè)試服務(wù)是行業(yè)第一個(gè)電子商務(wù)平臺(tái),提供按需的測(cè)試解決方案。它是專門為教育、半導(dǎo)體研發(fā)優(yōu)化的服務(wù)。另一個(gè)新業(yè)務(wù)是旨在徹底改變下一代半導(dǎo)體生產(chǎn)工藝的電子束光刻(EB)解決方案。隨著IC器件的不斷小型化,作為針對(duì)新一代設(shè)計(jì)規(guī)則的有用技術(shù),電子束曝光技術(shù)正日益受到關(guān)注。愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試提供的電子束光刻系統(tǒng)采用電子束直寫技術(shù),不僅可作為一種研發(fā)設(shè)計(jì)工具,而且也適合作為LSI生產(chǎn)線的工具,特別是針對(duì)小批量、多類型產(chǎn)品的生產(chǎn)系統(tǒng)。愛(ài)德萬(wàn)的電子束解決方案有助于降低開發(fā)成本,縮短開發(fā)周期。

新業(yè)務(wù)中的掃描電鏡測(cè)量/成像系統(tǒng)E3310是一個(gè)多視覺(jué)計(jì)量SEM,支持下一代晶圓,包括1Xnm節(jié)點(diǎn)工藝的開發(fā)和量產(chǎn)22納米及以下節(jié)點(diǎn)。

 

測(cè)試解決方案日臻完善

此次推出的三款新產(chǎn)品分別是針對(duì)V93000平臺(tái)的PVI8浮動(dòng)電源、T2000 1.6GDM數(shù)字模塊和T2000增強(qiáng)型組件電源供應(yīng)模塊DPS150AE

劉旸介紹說(shuō),全新PVI8浮動(dòng)電源可以使V93000平臺(tái)測(cè)試高電壓和大電流的IC,增強(qiáng)功能幫助受歡迎的測(cè)試平臺(tái)解決SoC的市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)日益融合趨勢(shì)。PVI8浮動(dòng)電源擴(kuò)展了公司市場(chǎng)領(lǐng)先的V93000測(cè)試平臺(tái)的高電壓能力和大電流的嵌入式功率器件的測(cè)試。此增強(qiáng)功能使V93000足夠的權(quán)力和足夠的模擬和在單一平臺(tái)上的數(shù)字通道進(jìn)行高度并行的,具有成本效益的嵌入式電源IC的測(cè)試。該測(cè)試解決方案可滿足對(duì)單一SoC(系統(tǒng)級(jí)芯片)更高的集成度數(shù)字、模擬、高速和高功率功能的趨勢(shì)。通過(guò)提供的微控制器單元強(qiáng)大的并行測(cè)試與嵌入式電源的功能和其他復(fù)雜的功率器件,提供了全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中第一個(gè)極具成本效益的方式測(cè)試快速增長(zhǎng)設(shè)備所需要的通道密度。

 

 

愛(ài)德萬(wàn)推出的1.6Gbps數(shù)字模塊啟用協(xié)議感知測(cè)試具有強(qiáng)大的EDA-LINKFTA-ELINK

愛(ài)德萬(wàn)推出的新的T2000 1.6GDM數(shù)字模塊,旨在提高測(cè)試系統(tǒng)的效率芯片的T2000測(cè)試平臺(tái)上系統(tǒng)(SoC)器件。1.6千兆位每秒模塊采用了新的功能,稱為功能測(cè)試抽象加(FTA +),可實(shí)現(xiàn)協(xié)議感知測(cè)試。強(qiáng)大的EDA-Link(稱為FTA-Elink)可直接連接到T2000測(cè)試平臺(tái)。此外,Verilog代碼可以在有1.6GDM模塊的T2000 EPP(增強(qiáng)型性能套件)系統(tǒng)上運(yùn)行。裝備的有協(xié)議識(shí)別引擎的測(cè)試儀碼型發(fā)生器能夠獨(dú)立定時(shí)和記憶功能,基于協(xié)議的I/O可以以本機(jī)方式測(cè)量,實(shí)現(xiàn)高效的多站點(diǎn)和并發(fā)測(cè)試。這使客戶能夠顯著加快他們的設(shè)計(jì)流片,實(shí)現(xiàn)更快的產(chǎn)品上市。

 

 

愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試推出的T2000增強(qiáng)型組件電源供應(yīng)模塊DPS150AE可滿足T2000測(cè)試平臺(tái)客戶對(duì)于微處理器(MPU)、特殊用途集成電路(ASIC)、現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列(FPGA)等高電流與低電壓半導(dǎo)體的高度精確測(cè)試需求,DPS150AE模塊將有助于T2000平臺(tái)以較低測(cè)試成本提升高產(chǎn)能、多組組件同測(cè)的測(cè)試效能。DPS150AE模塊采用高速總線技術(shù)并結(jié)合愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的Smart Test Condition MemoryTCM),讓T2000 EPP系統(tǒng)能夠進(jìn)行模塊分割,以一個(gè)模塊并行同測(cè)多個(gè)組件同時(shí)分別監(jiān)控評(píng)估每個(gè)待測(cè)物。此外還能隨需設(shè)定測(cè)試條件,再透過(guò)TCM快速調(diào)整測(cè)試,測(cè)試工程師不僅可預(yù)先加載所有測(cè)試程序的參數(shù)也能進(jìn)行編輯,根據(jù)圖形立即更改設(shè)定。

 

 

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