Multitest創(chuàng)新的測(cè)試分選技術(shù)受到業(yè)界好評(píng)

2011年07月21日14:15:42 本網(wǎng)站我要評(píng)論(2)字號(hào)：T | T | T

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Multitest公司是面向集成設(shè)備制造商（IDM）和較終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的供應(yīng)商。日前，Multitest獲得了InCarrier^®器件傳送系統(tǒng)和調(diào)整適用于金屬框架結(jié)構(gòu)料盤的InStrip^®分選系統(tǒng)的第五份完整采購(gòu)訂單。

該新型測(cè)試分選流程不同于傳統(tǒng)的料管或托盤上料送入重力或拿放系統(tǒng)的方式。相反，單粒器件被載入專利微彈簧結(jié)構(gòu)料盤，然后以料盤為單位在Multitest的料條系統(tǒng)上進(jìn)行測(cè)試分選。

通過(guò)InCarrier^®器件傳送系統(tǒng)， Multitest可以為單粒器件帶來(lái)極高的測(cè)試并行能力，同時(shí)避免測(cè)試后的切割過(guò)程影響質(zhì)量。具體測(cè)試分選幾乎無(wú)卡料，即使對(duì)小至QFN 2 mm x 2 mm的器件來(lái)說(shuō)亦是如此，保證了前所未有的測(cè)試機(jī)利用率。

欲了解更多關(guān)于Multitest InCarrier^®的信息，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)： www.multitest.com/InCarrier。