瑞薩通過Mentor Graphics公司TestKompress/LogicBIST混合解決方案以降低成本、提高品質(zhì)

混合測試技術(shù)可滿足ISO 26262標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的對安全很重要的測試要求

Mentor Graphics公司（納斯達(dá)克代碼：MENT）今天宣布瑞薩電子正在使用Tessent® TestKompress®/LogicBIST混合解決方案，以應(yīng)對ISO 26262標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的對安全很重要的測試要求。這種混合方法要求的測試邏輯非常少，從而提供完整的解決方案：既包括用于實現(xiàn)低每百萬缺陷數(shù)量（DPM）的高壓縮率掃描測試、又有內(nèi)置自檢（BIST）。Mentor的混合測試功能非常適合于汽車等行業(yè)的高可靠性應(yīng)用。

“壓縮掃描測試與邏輯BIST的組合，給瑞薩提供了一種高品質(zhì)解決方案，既可用于生產(chǎn)測試，亦可用于汽車行業(yè)ISO 26262標(biāo)準(zhǔn)要求的上電自檢（Power-On Self-Test），”瑞薩電子公司系統(tǒng)集成業(yè)務(wù)集團設(shè)計自動化部首席教授Toshiharu Asaka說�！安捎肕entor的集成解決方案而非分開進行ATPG壓縮和BIST實施，瑞薩還可簡化其DFT實施流程，從而降低測試邏輯所需的die區(qū)，節(jié)約開發(fā)者的時間，加快上市�！�

Tessent TestKompress/LogicBIST混合解決方案提供現(xiàn)場系統(tǒng)自檢，并由壓縮ATPG進行補充，這樣即使是在測試器存儲和接口受到限制，比如在老化測試（burn-in test）的情況下，也可達(dá)到較高的測試品質(zhì)。該解決方案可生成集成了嵌入壓縮邏輯的LBIST邏輯，同時自動生成壓縮100倍及以上的目標(biāo)“補充（top up）”模式，以補充LBIST偽隨機模式。該混合解決方案能減少生產(chǎn)測試時間與成本，同時實現(xiàn)低DPM和系統(tǒng)中測試的功能。

“對于不僅要在生產(chǎn)線上進行非常細(xì)致的測試，也需要在開始使用后能進行自檢的IC產(chǎn)品來說，這種Tessent混合方法是減少測試成本和測試時間較高效的方法之一，”Mentor Graphics公司副總裁兼Design-to-Silicon部門總經(jīng)理Joseph Sawicki說�！白鳛轭~外的好處，設(shè)計師們還可以節(jié)省實現(xiàn)這些測試功能所需邏輯的數(shù)量，同時享有一個經(jīng)簡化的實現(xiàn)過程�！�

關(guān)于Mentor Graphics

Mentor Graphics公司是電子硬件和軟件設(shè)計解決方案的全球領(lǐng)導(dǎo)者，為世界上較成功的電子、半導(dǎo)體和系統(tǒng)公司提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、咨詢服務(wù)和支持。公司成立于1981年，在剛過去的會計年度里的總收入約為10.15億美元。公司總部地址：8005 S.W. Boeckman Road, Wilsonville, Oregon 97070-7777。全球網(wǎng)站：http://www.mentor.com。

（Mentor Graphi和Tessent是Mentor Graphics公司的注冊商標(biāo)。其他所有公司或產(chǎn)品名稱均為相關(guān)所有者的注冊商標(biāo)或商標(biāo)。）

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