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使用PXI模塊化儀器完成超低功耗ASIC設計的結構和內存測試

2012年08月13日13:29:31 本網站 我要評論(2)字號:T | T | T

PXI Express測試儀器與實驗芯片相連接的測試平臺

 

我們在對一個新的存儲芯片設計進行實驗時,使用PXI-4071測量和記錄在內存寫(第一個傾斜)和內存讀(第二個傾斜)操作時的µA級電流

 

這是主要的結構測試程序。包含二進制測試和仿真向量的多個.csv文件可以被加載并按順序輸出。應用程序也可以指出仿真數(shù)據與實際采集的數(shù)字數(shù)據之間的可能誤差

 

芯片上的無線系統(tǒng)

 

"我們已使用PXI Express自動測試系統(tǒng)完成多個項目,并獲得非常滿意的效果。自動測試系統(tǒng)大大減少了芯片測試的時間,而其快速、準確的直流測試更是實驗室的寶貴財富。"

- Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec

The Challenge:
創(chuàng)建靈活的測試系統(tǒng)用于自動驗證和表征新的超低功耗半導體芯片設計。

 

The Solution:
使用NI LabVIEW軟件和NI PXI Express高速數(shù)字I/O設備開發(fā)自動測試系統(tǒng),前者讀取測試向量,后者產生和接收數(shù)字數(shù)據,并同時以很高的精度測量芯片設計的直流損耗。

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